環(huán)境條件對(duì)電子元件、設(shè)備和系統(tǒng)的功能和可靠性有很大影響。為了在最短的時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)潛在的缺點(diǎn)，常規(guī)的溫度試驗(yàn)往往是不夠的，測(cè)試樣品必須經(jīng)受多次突然的溫度變化。

借助于我們的 ShockEvent 系列設(shè)備，可以實(shí)現(xiàn)從 -80 °C 到 +220 °C 的極快溫度變化。為此，我們提供的解決方案有：具有靜態(tài)試驗(yàn)空間的阻尼熱沖擊試驗(yàn)箱，包括用于三區(qū)試驗(yàn)的環(huán)境溫度，或配裝移動(dòng)吊籠的經(jīng)典垂直熱沖擊試驗(yàn)箱。這樣就可以減少早期故障，提高產(chǎn)品的可靠性。
可重復(fù)性、認(rèn)證性和時(shí)效性。

我們的產(chǎn)品亮點(diǎn)：

• 新式環(huán)保型制冷劑 R449A
• 基于網(wǎng)絡(luò)的用戶界面 Q8®
• Q8®軟件使您的試驗(yàn)序列操作、記錄和存檔變得非常簡(jiǎn)單易行
• 廣泛的產(chǎn)品組合，使用垂直熱沖擊和翻板沖擊試驗(yàn)箱，或代之以冰沖擊和涌水試驗(yàn)箱
• 標(biāo)準(zhǔn)化的溫度應(yīng)力試驗(yàn)，例如符合 IEC 60068-2-14、EIAJ ED-2531B Na、JASO D-014-4 和各類 MIL標(biāo)準(zhǔn)（810G、883L-1 和 202G）的試驗(yàn)